因為專業(yè)
所以領(lǐng)先
定義: 在硅晶圓或襯底上添加材料層的過程,用于形成各種功能層,如半導(dǎo)體、金屬、絕緣體和聚合物層。
分類:
外延(Epitaxy)
通過加熱源材料使其蒸發(fā),并在基材上凝結(jié)形成薄膜。適用于幾乎所有元素的沉積。
在真空室內(nèi),通過物理轟擊靶材使其原子或分子被噴射并沉積到晶圓上。適用于幾乎所有無機材料的沉積,且在MEMS領(lǐng)域常用來在低溫下沉積金屬薄膜。
通過在特定條件下加熱硅片,使其表面形成二氧化硅薄膜。這種方法可以制備高品質(zhì)非晶態(tài)二氧化硅或通過高溫氧化制備熱生長的氧化膜。
是一種在硅晶圓上生長晶體硅層的沉積方法,具有不同的摻雜劑類型和濃度。外延層的厚度通常為1至20μm,表現(xiàn)出與下面的晶體基板相同的晶體取向。
氧化(Oxidating)
濺射(Sputtering)
蒸發(fā)(Evaporation)
定義: 將光刻掩模上的圖形轉(zhuǎn)移到襯底表面的過程,是決定微器件最終尺寸和形狀的關(guān)鍵步驟。
步驟:
涂膠
在襯底上涂覆光刻膠。
曝光
使用光刻掩模對光刻膠進行曝光。
顯影
去除未曝光的光刻膠。
刻蝕
根據(jù)光刻膠圖案對襯底進行刻蝕,形成所需的結(jié)構(gòu)。
定義: 根據(jù)光刻圖案,選擇性地去除材料的過程。
分類:
濕法刻蝕
利用化學(xué)試劑對材料進行選擇性腐蝕,適用于制備探針、懸臂梁、V形槽和薄膜等微結(jié)構(gòu)。
干法刻蝕
包括反應(yīng)離子刻蝕(RIE)和等離子增強化學(xué)氣相沉積(PECVD),用于在硅片上形成復(fù)雜的三維立體結(jié)構(gòu)。
以上就是MEMS芯片制造中常用的幾種基本工藝。這些工藝的組合和優(yōu)化使得MEMS能夠?qū)崿F(xiàn)多樣化的功能和應(yīng)用。需要注意的是,除了這些基本的工藝步驟外,MEMS制造還涉及到其他多種技術(shù),如SOI晶圓的制備、晶圓鍵合、各向異性蝕刻等。
水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會作為一個長期的使用和運行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導(dǎo)致焊點質(zhì)量降低、焊接時焊點拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
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