PoP堆疊組裝關(guān)鍵技術(shù)與PoP疊層封裝清洗
堆疊組裝,英文為Package-on-Package(PoP)。簡(jiǎn)而言之,就是采用兩個(gè)或兩個(gè)以上的BGA(球柵陣列封裝)堆疊而成的一種封裝方式。一般PoP疊層封裝結(jié)構(gòu)采用了BGA焊球結(jié)構(gòu),將高密度的數(shù)字或混合信號(hào)邏輯器件集成在PoP封裝的底部,滿足了邏輯器件多引腳的特點(diǎn)。
PoP作為一種新型的高集成封裝形式,主要應(yīng)用在智能手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)等便攜式電子產(chǎn)品中,作用非常廣泛。
PoP 關(guān)鍵技術(shù)如下所述。
(1) PoP 作為高度集成的 3D 封裝體,對(duì)于封裝及圓片的厚度有著更高的要求(低于 100um)。因而對(duì)減薄工藝提出了更高的要求,需嚴(yán)格控制并避免出現(xiàn)圓片破裂和芯片裂紋等問(wèn)題,而且對(duì)于厚度薄于 100wm 的圓片進(jìn)行切割時(shí),易造成芯片剝離藍(lán)膜。
(2)由于封裝集成度高,信號(hào)端口之間的間距更小 (小于 0.3mom),所以對(duì)于植球工藝提出了更高的要求,需要更高精度的植球機(jī),嚴(yán)格控制對(duì)推工藝精度。
(3)POP 對(duì)于成品的厚度要求較高,需要將塑封控制在較薄的厚度范圍內(nèi),因而必領(lǐng)通過(guò)實(shí)驗(yàn)選擇最佳的塑封材料,以及塑封和固化參數(shù),以避免發(fā)生不完全塑封、塑封體內(nèi)的孔洞,以及塑封材料與圓片及基板之問(wèn)分層等問(wèn)題。
(4)作為目前應(yīng)用較為廣泛的 MLP-POP,塑封后的激光鉆孔尤為重要,因此需要控制好激光脈沖的能量、脈沖寬度、重復(fù)頻率、對(duì)位,從而控制好鉆孔的尺寸、形狀、位置等,更好地實(shí)現(xiàn)上、下封裝體的疊封,如圖所示。
(5) PoP作為高度集成的兩個(gè)封裝體的疊加,對(duì)于上、下封裝體的翹曲有著較高的要求,應(yīng)盡量使上、下封裝體具有相同的翹曲方向,從而實(shí)現(xiàn)疊加上的一致性。對(duì)于封裝體翹曲過(guò)大的情況,需要更好地控制香加時(shí)的錫膏量。進(jìn)行新產(chǎn)品評(píng)估時(shí),需要專門(mén)評(píng)估分析上、下封裝體的翹曲數(shù)據(jù)。
POP 主要是針對(duì)移動(dòng)設(shè)備而發(fā)展起來(lái)的系統(tǒng)集成3D封裝,其結(jié)構(gòu)主要有如下特點(diǎn)。
(1)存儲(chǔ)器件和邏輯器件可自由組合,并可單獨(dú)進(jìn)行測(cè)試或替換,保障了成品率。
(2)POP 在垂直方向上實(shí)現(xiàn)堆疊,節(jié)省占板面積,提高了系統(tǒng)封裝密度
PoP堆疊芯片清洗:PoP堆疊芯片/Sip系統(tǒng)級(jí)封裝在mm級(jí)別間距進(jìn)行焊接,助焊劑作用后留下的活性劑等吸濕性物質(zhì),較小的層間距如存有少量的吸濕性活性劑足以占據(jù)相對(duì)較大的芯片空間,影響芯片可靠性。要將有限的空間里將殘留物帶離清除,清洗劑需要具備較低的表面張力滲入層間芯片,達(dá)到將殘留帶離的目的。合明科技研發(fā)的清洗劑具有卓越的滲入能力,以確保芯片間殘留活性劑被徹底清除。
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